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綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)

簡要描述：12“ 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)：
最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試；
操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn) ；
可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

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產(chǎn)品詳情

特點(diǎn)/應(yīng)用

◆ 12" 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)

最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試

◆ 同軸絲杠傳動結(jié)構(gòu)，線性移動

◆ 大手柄驅(qū)動，操作舒適，無回程差設(shè)計

◆ 針座平臺快速、微調(diào)升降功能

◆ 可搭配多種類型顯微鏡

◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

◆ 結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計，可無縫升級

◆ 探針臺可根據(jù)客戶要求定制。

12" 綜合性分析探針臺測試系統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)

顯微鏡類型	單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡
放大倍率	16X-200X/20X-4000X
移動行程	X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉(zhuǎn)，Z軸行程50.8mm
光源	外置LED環(huán)形光源/同軸光源
CCD	200萬像素/500萬像素/1200萬像素

可選附件

加熱臺

顯示器

轉(zhuǎn)接頭

射頻測試配件

屏蔽箱

光學(xué)平臺

鍍金卡盤

光電測試配件

高壓測試配件

顯微鏡快速傾仰裝置

激光系統(tǒng)

探針卡夾具

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